技术文章 / Introduce

首页 - - 技术文章
推荐文章 Recommend

绝缘电阻较低,泄漏电流较大而不合格的试品,为何在进行介质损耗因数tgδ测量时不一定很大,有时还可能合格呢?

发布时间:2020-07-10 11:14:40 点击次数:

  绝缘电阻较低,泄漏电流较大而不合格的试品,为何在进行介质损耗因数tgδ测量时不一定很大,有时还可能合格呢?

  绝缘电阻较低,泄漏电流较大而不合格的试品,一般表明在被试的并联等值电路中某部分绝缘较低。并联等值电路的介质损耗因数tg8测量时,其值介于并联电路中最大与最小介质损支路的值之间,且主要反映体积较大或电容较大部分。只有当绝缘较低部分的体积(或电容)很大时,实测tgδ值才较大并反映出不合格值。当绝缘较低部分体积很小时,测得整体(全部并联支路)的tgδ值不一定很大,且有可能小于《规程》规定值。例如,变压器高压对中、低压及对地绝缘很低,此电路包括绕组间、绕组对地和高压套管等并联支路。当套管绝缘很低时,往往就不能从这一整体介质损耗因数测量值中反映出来,所以必须进行单套管试验。


相关文章

相关商品 Related products